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JFP16-1.27老化测试座本体6mm开窗5*6mm适用于HTOL测试

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定制BGA25-0.4翻盖探针老化测试座socket老练夹具治具HTOL/HAST

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非标定制 SOP6-2.24 测试座/IC插座/SOP夹具工装/老化座/烧录座

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TO263-7L翻盖老化座D2PAK芯片老化测试MOS管二极管整流器HAST HTOL

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FCVA289-0.5-9x9测试座FPGA高频高Gbps速率性能调试校验

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eMMC5.0/eMCP测试座UFS2.1转USB3.0读写座擦除IC读卡器支持热插拔

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MSOP8-0.65翻盖老化座支持3mm本体5mm带引脚尺寸微小芯片测试验证

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QFP44-0.8下压老化座用于MCU ARM芯片主控测试调试以及老化实验

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国产替代STM32系列QFP32-0.8下压弹片老化烧录座IC编程座芯片插座

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定制BGA153-0.5mm间距UFS存储芯片测试座

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QFN28清空座间距0.5 5*5翻盖编程座CP-QFN28-0.5-B烧录座测试座

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QFN16 0.5mm IC老炼座 CQFN MLF封装兼容烧录老化失效分析测试座

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QFN36-0.5下压老化座6x6mm芯片尺寸国产替代790-41036-101T进口座

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非标定制 LCC64-0.7 测试座/IC插座/LCC夹具工装/老化座/测试工装

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原厂定制BGA898CPU功率芯片测试治具BGA封装芯片分析功能测试架

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56Pin老化插槽3.175mm老化板专用接口总线座引脚镀金耐温可达200

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BGA289-0.8 FPGA测试座编程仿真调试老化ATE批量烧录芯片功能测试

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BGA96-0.8-003TNH老化座16BitDIMM颗粒可靠性失效性极限测试

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定制LCC76模块-0.9（20X20mm)合金翻盖探针测试座芯片烧录座

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定制BGA144(38)-0.4mm塑胶下压探针老化测试座/IC老练测试夹具

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非标定制 LCC56-0.5 测试座/IC插座/LCC夹具工装/老化座/烧录座

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QFP80-0.4老化座12x12mm的MCU芯片功能性老化测试固件调试

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TSOP56转DIP48烧写编程测试座夹具治具NOR NANDflash烧录座测试架

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QFP48-0.5 7*7下压弹片老化座用于自动化取放芯片MCU固件烧录IQC

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LCC48-0.8光模块测试座适配11x11mm高速高频信号控制部分匹配验证

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定制三星UFS2.1芯片测试治具手机测试架 IC编程器

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BGA25-1.27电源芯片测试座6.25x6.25mm芯片测试LTM线性稳压测试

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SOP8-1.27-TPX1NT老化座适配本体3.9mm引脚宽6mm的eeprom

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定制笔记本DDR4x8内存颗粒导电胶测试治具/内存芯片测试夹具

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